Genel bilgiler

Malzeme yüzey ve mikro yapı incelenmesi ile tane boyutu analizikullanılmaktadır. Ters tip olması sebebiyle malzemelerin yüzey muayeneleri hızlıca yapılabilmektedir.

Teknik özellikler

•    Ters görüntü alma
•    Parlak saha ve polarizasyon 
•    50-1000 X arası 5 farklı objektif ile görüntü alabilme 
•    LED ışık kaynağı
•    Dijital görüntüleme için 1,3 MPCCD kamera
•    NIS Elements BR otomatik analiz yazılımı

Yapılan analizler

•    Malzeme mikro yapısınıngörüntülenmesi ve kaydedilmesi
•    NIS Elements BR yazılımı ile tane boyutu, faz analizi,küresellik,kaplama kalınlığı gibi ölçümlerin yapılabilmesi

Numune gereksinimleri

•    İncelenecek numune yüzeyi temiz ve parlatılmış olmalıdır.