Genel Bilgiler

AFM aracılığıyla atomik boyutlara kadar sivriltilmiş bir iğne ucu yardımıyla, yüzeyin yüksek çözünürlükte iki boyutlu ve üç boyutlu görüntülenmesi sağlanır. Görüntüleme, iğne ucunun yüzey ile etkileşiminin incelenmesi sonucunda gerçekleştirilir. AFM’de yüzey görüntüleme genellikle üç farklı teknik kullanabilmektedir. Bunlar; iğnenin yüzeye temas ettirilerek uygulandığı teknik (kontak mod), iğnenin yüzeye temas etmediği teknik (kontaksızmod) ve iğnenin yüzeye vurularak uygulandığı vurma tekniğidir (tıklatma mod). Atomik kuvvet mikroskobunda yüzey görüntüsü alma işlemi ucu sivriltilmiş iğne tarafından yapılmaktadır. AFM’de iğnenin kalitesi son derece önemlidir çünkü filmin kalite ve çözünürlüğü iğnenin tarama kalitesiyle ilişkilidir. Ayrıca iğnenin boyu ve yarıçapı da alınacak görüntü üzerinde etkilidir. AFM’nin ilk kullanım yıllarında uç olarak alüminyumdan yapılmış elmas parçalarıyla yapılmaktaydı. Günümüzde ise genellikle Si3N4 ve Si malzemeleri kullanılmaktadır.

Teknik Özellikler

1-50 µm alanlarda tarama
Kontak, yarı kontak ve non-kontak ölçüm.

Yapılabilecek Analizler

Düzgün yüzeye sahip film numuneler.

Numune Kabul Kriterleri

1.  Numunelerin BİLTEM’e getirilmesine kadar geçen sürede muhafazasının sorumluluğu analiz talep eden kişi/kuruma aittir. 
2.    Numunelerin özel muhafaza şartları varsa Analiz İstek Formu’nda ilgili bölümde belirtilmelidir. 
3.    Çevreye ciddi anlamda zarar veren Radyoaktivite oranı yüksek numunelere analiz yapılmamaktadır. 
4.    Numune, sırasıyla en, boy, genişlik için, 2.5cm x 2.5cm x 1cm boyutlarından daha küçük ve katı olmalıdır. Numune yüzeyindeki yükseltiler (pürüzlülük, derinlik) 5 mikronu geçmemeli, film kuru ve yerleştirme yüzeyine paralel olacak şekilde düz olmalıdır.
5.    Numuneler toz ve sıvı olmamalıdır. (Toz numuneler için bilgi alınız.)
6.    Numuneler plastik tüpler (ependorf)/cam şişeler, ışığa hassas ise koyu renkli ambalajlarda ağzı kapalı olarak teslim edilmelidir. Yüzeyi zarar görmemesi gereken numuneler ise zarar görmeyecek şekilde uygun kap ya da kutularda laboratuvara teslim edilmelidir. 
7.    Bozulma özelliği olan numuneler gerekli korumalar sağlanmış ve uyarın yazılmış olması gerekmektedir. 
8.  Numunenin ölçüm süresi,  analiz talep eden kişi/kurumun belirttiği “tarama hızı” ve “tarama aralığı” değerlerine anlaşılır bir biçimde yazılmalıdır.
10.    AFM başvurularında BİLTEM Numune Kabul Kriterleri okunup, AFM Analiz İstek Formu doldurulup imzalanarak numune/numuneler ile birlikte BİLTEM’eelden ya da kargo yoluyla müracaat edilecektir. 
11.    Numune sonuçları CD/DVD ile veya e-posta yoluyla verilir. 
12.    İletişim biltem@kmu.edu.tr adresi üzerinden yapılacaktır.