Genel Bilgiler

Ultraviyole, görünür ışık ve yakın kızılötesi (UV-VIS-NIR) bölgede soğurma spektroskopi bir ışın demetinin bir örnekten geçtikten veya bir örnek yüzeyinden yansıtıldıktan sonraki azalmasını ölçmektedir.
Teknik özellikler
Dalga boyu Aralığı: 185 - 3,300 nm
Spektrum bant aralığı: Ultraviyole ve Görünür Bölgelerde 8 basamaklı; 0.1, 0.2, 0.5, 1, 2, 3, 5, 8 nm,
Yakın Kızılötesi Bölgelerde 10 basamaklı; 2, 0.5, 1, 2, 3, 5, 8, 12, 20, 32 nm
Spektrum Rezolüsyonu1 nm
Dalga boyu örnekleme Aralığı: 0.01 to 5 nm
Dalga boyu tekrarlama doğruluğu: Ultraviyole ve Görünür Bölgelerde: ± 0.08 nm
Yakın Kızılötesi Bölgelerde: ± 0.32 nm
Işık Kaynağı Değişimi: dalga boyuna göre otomatik olarak değişir.
Optik sistem: Çift ışın yollu.
Fotometrik Aralığı: -6 to 6 Abs.
Fotometrik doğruluk: ± 0.003 Abs (1 Abs), ± 0.002 Abs (0.5 Abs), NIST930D standart filtre ile elde edilerek.
Fotometrik tekrar edilebilirlik doğruluğu:0008 Abs (0 to 0.5 Abs), 0.0016 Abs (0.5 to 1 Abs)
Baseline düzeltmesi: ± 0.004 Abs (185 to 200 nm) ± 0.001 Abs (200 to 3,000 nm) ± 0.005 Abs (3,000 to 3,300 nm)

Takılabilinen aksesuarlar
Film Tutucu
 
Bu tutucu, filmler gibi ince numuneleri ölçmek için kullanılır. 
Uygulanabilir numune boyutu: Minimum 16W x 32H (mm) / Maksimum 80W x 40Y x 20t (mm)

Entegre Küre Eklentisi
 
Bu ek, dağınık / speküler yansımanın ölçülmesi ve sıvı veya katı numunenin iletiminin ölçülmesi için kullanılır.
Dalga boyu aralığı: 220 ~ 2600 nm Entegre küre: 60 mm iç çap, bir fotoçoğaltıcı ve bir PbS hücresi. Maksimum yansıma numunesi boyutu: Yaklaşık 100 mm çap x 15 mm kalınlık Olay açısı: 0 derece / 8 derece

Yapılan Analizler 

Çözeltiye alınabilen katı maddelerdeki anyonların belirlenmesi, organik bileşiklerin değişik çözücülerde spektrumlarının alınması, ince filmlerin optik özelliklerinin belirlenmesinde, nanomalzemelerin farklı dalga boyunda ışıkla etkileşimleri ve soğurma bantlarının belirlenmesinde

Numune Gereksinimleri

•    Katı
•    Toz
•    Sıvı
•    İnce Film